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              激光手持式三維掃描儀 BEM-FreeScan X5

              產品編號:BEM-FreeScan X5

              上架時間: 2021/05/22

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              詳情介紹

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              一.產品技術質量
                 1.總體技術要求
               *掃描方式:激光手持照相式
                  *掃描技術:激光線網格掃描技術
               掃描區域:300 mm×250 mm
               景深:250 mm
               工作距離:300 mm
               *掃描速率: 350000 次/秒
               掃描分辨率:0.100 mm
               *測量精度:最高0.03 mm
               *體積精度:0.020 + 0.080 mm/m
               體積精度(結合DigiMetric):0.020 + 0.025 mm/m
               測量范圍(物件尺寸):0.1 ~8 m,可擴展
               傳輸方式:USB3.0
               工作溫度:-10 - 40℃
               工作濕度:10 - 90 %
               2.三維光學掃描系統配置與功能要求
               (1) 數據采集傳感器:高速、高精密工業級相機2臺 
               * (2) 測量光源:10束交叉激光線,激光級別ClassII(人眼安全),波長大于600納米
               (3) 計算機系統:支持windows 7及以上,32位和64位操作系統,支持內存16G以上
               (4) 拼接方式:系統整合“專業模式”全自動標志點拼接模塊
               (5) 全局誤差控制方式:系統整合GREC Pro全局誤差控制模塊
               * (6) 使用方便:整個過程全部手持完成,無需三腳架等支撐裝置
                  (7) 普通環境下可以測量鎏金等高光亮物體以及黑色物體,無需噴涂顯影劑等預先處理
               (8)防抖設計:采用先進的防抖動算法,防止掃描過程中人為的抖動對誤差的影響
               * (9)掃描過程中可以進行實時可變點距掃描,實時加密局部細節點距
               3.三維光學掃描系統軟件功能要求
               * 全中文軟件界面
                 * 自適應形面掃描模塊
                (1)  自動調節系統參數,自適應各種材質/顏色表面的不同掃描對象,無需手動調節
                (2)  可變點距掃描,在同一次掃描中,可對點距進行靈活設置和改變,同時滿足高速掃描以及精細掃描的需求
               * 自動拼接模塊
               (1)  智能標志點識別技術:系統自動跟蹤識別標志點
               (2)  GREC Pro全局誤差控制模塊,可對拼接后的誤差進行全局控制
               * 全局框架掃描模塊
               (1)  全局框架掃描技術,對框架點累積誤差進行全局控制
               (2)  兼容DigiMetric系統,搭載全局攝影測量技術可將掃描范圍擴展至幾十米
                  點云處理模塊
               掃描數據后,可進行點云噪聲處理及修剪
               基于曲率的點云精簡功能
               自動生成三角面
               數據輸入輸出
               導出結果為ASC,STL,OBJ,OKO等格式數據輸出接口廣泛,測量結果可與CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程軟件自由交換數據
               其它
               *生產企業須通過雙軟企業認證,擁有國家級發明專利,并通過高新技術企業認定。
               供應商必須提供設備的軟硬件安裝調試。

              二.蓓爾敏三維數據處理系統備件清單

              序號

              名  稱

              規格/型號

              數量

              蓓爾敏激光手持式三維掃描儀BEM-FreeScan X5

              01

              測量頭

              高精密工業級立體視覺傳感器

              BEM 3DCam-M

              2個

              激光發生器

              BEM MultiLaser-M

              1套

              02

              蓓爾敏激光手持三維掃描系統軟件

              FreeScan V2.6

              1套

              03

              標定系統

              BEM-Cali

              1套

              04

              數據線、控制線、電源線

               

              1套

              05

              標志點

              6mm

              5000個

              06

              說明書

               

              1套

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